DIP Meter (By I1FLC)

DIP Meter di Luigi Falcone. I1FLC
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La realizzazione di questo utile strumento è molto semplice e non vale certo la pena di comprarlo. Lo schema è tratto da un vecchio “Handbook” e riportato in figura 1. La semplicità del circuito non merita molte parole di commento.
E’ un oscillatore “Colpitts” con bobine intercambiabili. Le oscillazioni vengono rivelate dal diodo D1 ed amplificate dal transistor Q2 sul cui circuito di collettore è inserito lo strumento di controllo del “Dip”. Commutando il selettore S2, lo strumento lavora come misuratore di campo. Il potenziometro R2 regola il guadagno del Mosfet, mentre R7 controlla la sensibilità dello strumento.
La realizzazione pratica non presenta alcuna difficoltà, basta attenersi alle regole di assemblaggio di qualsiasi oscillatore con collegamenti corti e buoni ritorni di massa. Il circuito stampato, Iato rame e Iato componenti, è riportato in scala 1:1 in figura 2.

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Fig. 2 – Circuito stampato

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Il circuito è alloggiato in una scatola 16x10x6 mm, la basetta è montata verticale in modo da avere collegamenti corti con il condensatore variabile e con la bobina. Per una lettura più accurata è bene fare uso di una demoltiplica per il comando di C4. Per la taratura è necessario un RX a copertura continua o un frequenzimetro collegato alla presa J2.
Per coprire la gamma 3-30 MHz, ho fatto uso di sette bobine, onde avere una gamma più espansa, facilitando quindi la lettura della frequenza del “Dip”.
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Le bobine sono avvolte su supporto di teflon ed ancorate I a due spinotti “femmina”, mentre il “maschio” è montato su un Iato della scatola. L’innesto è rigido ed offre un ottimo contatto elettrico.
L’alimentazione è fornita da una batteria 9 V alloggiata all’interno della scatola.
Come è noto, il “Dip” si genera quando la frequenza di risonanza del circuito oscillante in prova è uguale a quella generata dal! strumento. In queste condizioni il circuito i prova assorbe energia dall’oscillatore generando una caduta di tensione sul “source” di Q1. La caduta di tensione si riflette sulla base del transistor Q2 e, di conseguenza, sullo strumento.
Il massimo assorbimento di energia da parte del circuito in prova lo si ottiene quando le due bobine sono sullo stesso asse, però per un’accurata lettura del “Dip”, occorre allontanare la bobina in prova fino a quando è possibile rilevare il “Dip”.
Con un frequenzimetro collegato alla presa J2, la taratura di una trappola diventa molto accurata.
Oltre che determinare la F o di un circuito risonante, lo strumento può essere usato per determinare il valore dell’induttanza di una bobina collegando in parallelo ad essa un condensatore di capacità nota (o viceversa), quindi:

L = 25355 / C × F ²

ove L [μH]; F [MHz]: C [pF]

oppure, viceversa, si può determinare la capacità di un condensatore mettendolo in parallelo con una induttanza nota, quindi:

C = 2535 / L × F ²

Buon lavoro!

N.D.R. Non trovando più in commercio il mosfet 40673 è stato sostituito con il BF961.

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